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Olympus NDT presenta el OmniScan iX para ensayos de componentes industriales
February 08, 2008

Olympus NDT presenta el OmniScan iX, un sistema de detección de defectos por ultrasonidos diseñado para efectuar inspecciones a alta velocidad de componentes industriales críticos. Este detector de defectos industriales flexible y potente puede ser configurado para 2, 4 u 8 canales de ultrasonidos convencionales. Este equipo se diferencia por su pantalla VGA de alta resolución, sus representaciones de varios A-scans, C-scans y registros gráficos continuos, sus 16 alarmas lógicas, sus 16 salidas analógicas y su modo de inspección helicoidal. El OmniScan iX es compacto y está alojado en una caja robusta para su uso sobre una mesa de trabajo o para ser montado en un bastidor (5U), facilitando, así, su integración a los sistemas de ensayos en líneas de producción.

Gracias a su control y acceso a los datos brutos a distancia vía el programa informatizado, el OmniScan iX constituye la pieza faltante en el rompecabezas de integración para aquellos que buscan un sistema de detección de defectos por ultrasonidos para ensayos industriales que ofrece funciones de avanzada, el almacenamiento de datos y una excelente prestancia.


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