25MX PLUS

Panametrics-NDT™の超音波高精度厚さ計 25MX PLUSは、測定することが難しい試験体の片側から厚さを測定することができ、取り扱いも容易なため、作業の効率化、コスト削減に非常に有効です。

金属、プラスチック、ゴム、ガラス、ファイバーグラス、複合材などの材料でマルチポイントおよびシングルポイントの厚さ測定が可能です。

主な特長

• シングルまたはマルチポイント厚さ測定が可能
• 8つのトランスデューサまで接続可能
• ユーザー選択可能：チャネル数、チャネルシーケンス、チャネルレート
• 接触型、遅延材型、水浸型トランスデューサを使用
• トランスデューサ周波数範囲：2～30 MHz
• 用途により0.08～500mm（0.003～20インチ）の広範囲な厚さ範囲で測定が可能
• 最大0.001mm（0.0001インチ）までの分解能
• 波形確認用A-scan表示
• 保存した標準およびカスタムセットアップのアプリケーション・オートリコール機能
• 英数字のファイルベースのデータロガーにより18,000件の厚さ測定値、または1,750件の波形保存が可能
• 小型軽量、直感的操作、長寿命バッテリーの使用

Mx-8マルチプレクサ