プレート

当社の渦流検査システムは、平面検査の浸透（PT）探傷検査に代わるシステムで、化学的処理を行わずに高速に測定結果を導き出すことが可能です。さらに測定結果データは、標準コンピューターベースのハードウエアに保存され、専用のレポート作成ソフトウエアに転送することができます。

またアレイプローブは、デッドゾーンが広く低感度で保守に手間がかかる標準のフラット回転式プローブヘッドに代わるものです。渦流アレイプローブは、カバーする測定面が広いため、パスの回数を減らすことが可能です。また、検査中にプローブの機械的部品を動かす必要がないため故障も少なく、簡単なメンテナンスで機器を長く使用できます。

正確さ、広い用途、高速

システムは、磁性体および非磁性体材料の表面破壊や表面近くの欠陥検査に使用します。プローブは、軸方向や横断型欠陥を検出します。これは、さまざまな幅のプレートにプローブモジュールを付け換えることによって適応します。オンライン生産試験で、毎秒1mのスピードまで対応できます。